主要观点总结
文章主要讨论了半导体器件的特征尺寸缩小至2纳米及以下带来的计量和检测挑战，以及半导体行业逐渐转向3D架构带来的新挑战。文章中提到了计量和检测技术在确保半导体工艺可靠性方面的关键作用，以及随着工艺节点的推进，计量与检测技术面临的挑战和演变。
关键观点总结
关键观点1: 半导体器件特征尺寸缩小带来的挑战
半导体工艺节点的不断演进，对计量和检测技术的要求越来越高。特征尺寸缩小至2纳米及以下，使得传统的平面检测方法无法满足前沿技术的要求，需要更高精度、更小缺陷检测的技术。
关键观点2: 半导体行业转向3D架构带来的新挑战
半导体行业逐渐转向3D架构，计量和检测技术需要适应新的工艺变化。传统的光学检测技术在面对3D结构时，难以检测到埋藏缺陷，需要更先进的工具和技术来处理。
关键观点3: 计量和检测技术在确保半导体工艺可靠性方面的关键作用
计量和检测技术在确保半导体工艺良率和工艺控制中扮演着关键角色。随着工艺节点的推进，计量与检测技术的挑战也不断增加，但它们仍然是推动工艺创新的核心力量。
关键观点4: 混合键合技术的计量与检测
混合键合技术成为半导体制造中的重要工艺之一，这也对计量与检测技术提出了新的要求。白光干涉法、原子力显微镜等工具在混合键合检测中发挥着重要作用。
关键观点5: 数据在半导体行业中的作用及机器学习的应用
数据在半导体行业中扮演着重要角色。随着数据量的增加，机器学习技术被引入处理和分析大量的检测数据，用于改善散射测量法的结果、优化光学检测的灵敏度等。
文章预览
芝能智芯出品 半导体器件的特征尺寸不断缩小至2纳米及以下，这对计量和检测技术提出了前所未有的挑战，在新工艺不断推向前沿的情况下，如何检测3D结构、埋藏缺陷并提高检测灵敏度，成为了半导体制造中的关键难题。 半导体工艺节点的不断演进，计量和检测技术在确保良率和工艺控制中的作用愈发重要。 数据是21世纪的黄金，但真正理解数据才是关键。 这句话形象地说明了当前半导体行业中的数据过剩问题，真正的价值隐藏在数据背后，必须依靠合适的工具和技术从中挖掘出对生产有用的信息。 Part 1 半导体行业3D架构带来的新挑战 计量工具供应商不仅需要满足当前工艺节点的需求，还要提前准备应对下一代工艺节点。 无论是逻辑芯片、内存，还是电源模块和传感器，市场对更高精度、更小缺陷检测的要求日益严格。这使得计量和检测技
………………………………
