透射电镜（TEM）电子衍射在晶体结构分析中的应用

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X-射线单晶衍射技术(SXRD, Single crystalX-ray diffraction)和 X-射线粉末衍射技术(PXRD, Powder X-ray diffraction)经常被用于研究晶体结构。然而 X-射线衍射技术对于解析的晶体大小有限制，即使是应用同步辐射光源也只能解析大于微米级的晶体，无法对纳米晶体的结构进行解析。相对于 X-射线，电子束具有更短的波长以及更强的衍射，因此电子衍射可被应用于纳米晶体的结构分析。 透射电镜不仅可对纳米晶体进行高分辨成像还可进行电子衍射分析，而透射电镜电子衍射已成为纳米晶体材料不可或缺的研究方法，包括判断纳米结构的生长方向、解析纳米晶体的晶胞参数及原子的排列结构等。 1 判断已知纳米结构的生长方向 在研究晶体结构时，很多情况下需要判断其优势生长面及 ………………………………